換氣式老化試驗(yàn)箱測試電子元器件
換氣式老化試驗(yàn)箱測試電子元器件 換氣式老化試驗(yàn)箱
換氣式老化試驗(yàn)箱可以用于測試電子元器件的老化性能和可靠性。在電子元器件的生產(chǎn)和應(yīng)用過程中，長時(shí)間的使用和不同環(huán)境條件下的影響可能導(dǎo)致電子元器件的老化。通過換氣式老化試驗(yàn)箱可以模擬不同溫度、濕度和氧氣濃度的環(huán)境，對(duì)電子元器件進(jìn)行老化測試。具體而言，換氣式老化試驗(yàn)箱可以模擬電子元器件在高溫、低溫、濕度和氧氣濃度變化的環(huán)境條件下的老化過程。通過設(shè)置不同的溫度、濕度和氧氣濃度，可以模擬電子元器件在各種不同環(huán)境下的使用情況，并對(duì)其耐老化性能進(jìn)行評(píng)估。
在測試過程中，可以監(jiān)測電子元器件的電性能、機(jī)械性能和物理性能的變化。例如，可以測試電子元器件的電阻、電容、電感等電性能參數(shù)的變化情況，以及引腳的可靠性、焊點(diǎn)的可靠性等機(jī)械性能的變化情況。同時(shí)，還可以測試元器件表面的氧化程度、變色情況等物理性能的變化情況。
通過換氣式老化試驗(yàn)箱的測試，可以評(píng)估電子元器件在長時(shí)間使用和不同環(huán)境條件下的耐老化性能和可靠性，為產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)提供重要的參考依據(jù)。
一、用途簡介：
適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品等等換氣老化試驗(yàn)；考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測定其性能并與未老化樣的性能予以比較。
二、標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：
GB/T 3512-2014中的規(guī)定要求《空氣熱老化試驗(yàn)箱》
GBT 11026.4-2012 電氣絕緣材料 耐熱性 第4部分：老化烘箱 單室烘箱
GB/T-7141-2008-塑料熱老化試驗(yàn)方法
HGT 3065-2008 《橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅 加熱減量的測定》
三、技術(shù)參數(shù)指標(biāo)：
設(shè)備型號(hào)： HE-HQ-100L、 HE-HQ-100G、 HE-HQ-150L、 HE-HQ-150G
溫度范圍： RT+15℃～200℃ RT+15℃～300℃、 RT+15℃～200℃ RT+15℃～300℃
內(nèi)箱尺寸： 寬450×高500×深450（mm）、 寬500×高600×深500（mm）
外形尺寸： 寬1050×高1600×深700（mm）、 寬1100×高1700×深750（mm）
內(nèi)箱材質(zhì)： SUS304#不銹鋼砂板：厚1.2mm
外箱材質(zhì)： SECC冷鋼板，厚1.0mm粉體烤漆處理
保溫材質(zhì)： 耐高溫纖維巖棉，保溫效果好
轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)速： 3～20轉(zhuǎn)/分鐘，可調(diào)
定時(shí)器： 1～9999時(shí)（可選擇設(shè)定小時(shí)、分鐘、秒）溫到計(jì)時(shí)
顯示精度： 0.1℃
控制精度： ±0.5℃
溫度偏差： ±2.0℃（空載時(shí)）
升溫速率： 到100℃約15min
換氣率： 5～30次/小時(shí)
送風(fēng)方式： 內(nèi)部熱風(fēng)循環(huán)
保護(hù)系統(tǒng)： 超溫保護(hù)、接地保護(hù)、快速保險(xiǎn)等
使用電源： AC 單相 三線 220V 50/60HZ
換氣式老化試驗(yàn)箱測試電子元器件有以下好處：1. 可靠性評(píng)估：通過模擬不同環(huán)境條件下的老化過程，可以評(píng)估電子元器件的可靠性。在長時(shí)間使用和不同環(huán)境條件下，電子元器件可能會(huì)出現(xiàn)性能下降、故障和損壞等問題。通過換氣式老化試驗(yàn)箱的測試，可以提前發(fā)現(xiàn)并評(píng)估這些問題，為產(chǎn)品的可靠性提供重要的參考依據(jù)。
2. 產(chǎn)品改進(jìn)和優(yōu)化：通過換氣式老化試驗(yàn)箱的測試，可以了解電子元器件在不同環(huán)境條件下的性能變化情況。這些測試結(jié)果可以為產(chǎn)品的改進(jìn)和優(yōu)化提供指導(dǎo)。例如，在測試中發(fā)現(xiàn)某個(gè)環(huán)境條件下電子元器件的性能下降較為嚴(yán)重，可以針對(duì)該問題進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化，提高產(chǎn)品的性能和可靠性。
3. 延長使用壽命：通過模擬不同環(huán)境條件下的老化過程，可以了解電子元器件的使用壽命。這對(duì)于一些長壽命產(chǎn)品尤為重要，如航空航天器、醫(yī)療設(shè)備等。通過測試，可以預(yù)測電子元器件的老化速度和壽命，從而制定相應(yīng)的維護(hù)和更換計(jì)劃，延長產(chǎn)品的使用壽命。
4. 質(zhì)量控制和合規(guī)性驗(yàn)證：換氣式老化試驗(yàn)箱的測試可以作為產(chǎn)品質(zhì)量控制的一部分，確保產(chǎn)品符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和要求。通過測試，可以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能夠在各種環(huán)境條件下保持正常的性能和可靠性，以滿足用戶的需求和期望。
總之，換氣式老化試驗(yàn)箱的測試可以幫助評(píng)估電子元器件的可靠性、改進(jìn)產(chǎn)品、延長使用壽命，并確保產(chǎn)品的質(zhì)量和合規(guī)性。這對(duì)于提高產(chǎn)品的競爭力、滿足用戶需求以及降低售后服務(wù)成本都具有重要意義。
